G2511_U35_電子回路計測実験
2025年11月14日
12:39
G2511_lpc11u35_electronic_circuit_measurement
2025.12.09 TUE (07:14) goma0099 -8453482-
概要
- DA変換ICやポテンショメーターを利用して部品性能を測定する回路実験を行います
- 電圧調整 0-3.3V 0-5V
- マイコン回路が標準になりますので、0-3.3V レンジでの測定が基本となります
おことわり
- 測定値の換算や検証には、どうしてもテスターの誤差が発生します
- 筆者のように、複数のテスターを使っている場合は、テスターの誤差を把握しておく必要があります
- 注意することは、出来るだけ正確であろうテスターに絞って換算や検証はそのテスターに限定して使用することです
- 筆者のホームページで紹介内容が、製品化出来ない理由、論文化出来ない理由がここにあります
- 製品化のためには、測定値や部品の誤差をチューニングできる回路が必要となりますが
- 簡略化の為、そういった配慮は全くなされていません
- 論文化には、手元に校正済みの測定器、大変高額な機器、が必要ですが、そのようなものを扱う予算はありません
- 実用化するために、回路ごとに部品を微調整したり、マイコンのプログラムの数値をいじって調整としています 量産化にはいろいろな工夫が必要ですが、紹介さているのは一品ものとなります
LPC11U35 DIP化モジュール: 半導体 秋月電子通商-電子部品・ネット通販

両面スルーホールユニバーサル基板
5*7: 基板・ブレッドボード・ラグ板 秋月電子通商-電子部品・ネット通販

低ドロップアウト電圧レギュレーター
3.3V300mA SOT-23 AP7333: 半導体 秋月電子通商-電子部品・ネット通販

MCP4726搭載12ビットD/A変換モジュール:
半導体 秋月電子通商-電子部品・ネット通販














プロジェクト U35_THERMAL_HOT を複写し U35_CIRC_MEAS を作成

シリアル通信ピンの取り付け位置が決まらない
- USBライターの横はスペースがないので、別の場所を検討します
- 配線の距離が短くて収まるので、マイコン基板 33PIN
32PIN 31 PIN の 近くに小さな基板を増設します
- 臨時にシリアル通信は仮配線で接続し、テストを進めます
- DA変換ICに問題発生
- S コマンドでのアドレスを取得に失敗しました
- ブレッドボードに乗せ換えてテストします

- 正常になりました
- 予測では、10KΩのプルアップ抵抗を調整する必要があるのかと思いましたが、違いました
- S コマンドのアドレス検索は成功しています
- こうなると、基板の配線ミスを探す必要があります
- DA変換 SCLのプルアップ抵抗10KΩの 3.3V側がはんだ付け不良でした
- 修正して、I2C通信成功しました

DA変換制御
- 任意の周期でDA変換の出力を直線的に、変動させます
- 係数テーブル loop_tbl[5];
- シリアル通信で、係数を設定できる工夫は後でします
- テスターで DA出力モニタ成功
uint32_t
loop_tbl[5]; // DA変換係数
loop_tbl[0] = 0; // DA値
loop_tbl[1] = 1; //
開始値
loop_tbl[2] =
4095; // 終了値
loop_tbl[3] =
50; // 刻み
loop_tbl[4] =
1000; // ループ待ち時間 msec




AD変換を追加します

フォトカプラPC617の実験回路


- エクセルのグラフを何年振りかで使いましたが、これほど便利になっているととは驚きです






課題の検討
- 電圧換算をマイコンで実行するか、パソコンで実行するか
- 内蔵AD変換は、GNDが固定であるため、任意の2点間の電圧を測定することが出来ない
- 任意の2点間の電圧を測定する方法を MCP3425を足掛かりに調査資料作成します
- MCP3425のアドレス変更の方法がわからないため、1点だけであれば利用は出来ます
- MCP3425を複数利用する方法として、LPC812基板とRS485通信で利用したい点数接続する方法も検討します
- モニタ出力できる順番も係数で指示できる必要があります ★ 順番は配線で変更します
- 内蔵ADだけであればそれでよいのですが、外付けを活用する場合は、やはり係数で順番指定が必要です
- 分解能を効率よく利用するため、の工夫を検討します
- すべての測定点が2点間処理であれば、分解能の問題は解決します
- 課題が収集つかないくらい膨らむので、サーミスタに目的を絞って、収束させます
サーミスタのアイソレート
- サーミスタをフォトカプラでアイソレートするためここまで来ました
- 直線的に利用できる範囲を分解値で読み取ります
- 2101 - 3151 電圧換算 1693
mV 2539 mV
- 地下水の水温は14℃一定なので 10℃ 20KΩから 100℃ 1KΩの範囲に限定します
- 1KΩ - 20KΩ の範囲を 1693 mV - 2539 mV にすればよい?
- ん
- フォトカプラの反応は電流値によるLEDの光度なので、電流換算する必要があります


フォトカプラのダイオード電流の換算
- B35テスタ mAレンジ 内部抵抗 1.8Ω
- フォトカプラ のLEDと GND間にテスタを割り込みします
- DA 4001 13.09
mA
- テスタ割り込みで誤差が出ていないか、測定値とグラフで確認
- 電圧が高くなると誤差も大きくなりますが、無視できる程度です



任意のDA値を指令できる処理を追加し、テスタ値を記録します
- 中心値で電流換算係数を決めます
- 1306 uA
- 誤差は大きいので 電流を正確にしたい場合は 換算が必要です
- カーブごとの換算値変換テーブルを作る必要があります
- サーミスタの近似値がわかればいいので、次の課題とします
- 温度の設定値で敷居を決めるのではなく、温度計で得られた 分解値をコードで判定する方法を取ります


サーミスタの回路構成
- 20KΩ 0.63
mA 630 uA
- 1KΩ 6.72
mA 6730 uA
- ブレッドボードで実験をして下記の回路が出来ました
- トランジスタは表面実装の C2712 をつかいます
- 抵抗は微調整が必要かもしれません

2025.12.09 TUE (07:24) goma0099 -8453482-
表面実装トランジスタ C2712 の性能測定
- 主にスイッチ素子としての利用に限定して、閾値を知るための測定とします
- 複数の部品を測定する必要があるのですが
- はんだ付けをしてしまうと使いまわしが出来ないので、工夫が必要です
- 表面実装の部品はブレッドボードにも差すことは出来ません


プログラムの修正



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AD値
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パソコン通信
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mV
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テスター測定値
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係数換算
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=(A2*8093)/10000
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(mV / DA値)
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=B2/A2
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係数決定のための平均値
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=SUM(D4:D21)/18
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両端の誤差が大きい測定値は無視しました
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係数 8093
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係数 80926
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5桁係数で 0x13AE1E20 4*8=32Bit
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ぎりぎり
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// DA変換ループ中
if(0 < loop_tbl[0])
{
//if(loop_tbl[0] ==
loop_tbl[1]) UART_puts("DA LOOP START \r\n");
wait_sec('m',loop_tbl[4]); //
待機時間
UART_puts(",");
loop_tbl[0] =
loop_tbl[0] + loop_tbl[3]; //加算
//
DA値を mV に換算します
loop_tbl[5]
= (loop_tbl[0]*8093)/10000;
//UART_putdec(loop_tbl[0]); //
DA分解値モニタ
UART_putdec(loop_tbl[5]); //
DA値 mV換算
if(loop_tbl[2]
<= loop_tbl[0])
{
// 終了判定
loop_tbl[0] = 0;
//UART_puts("DA
LOOP END");
}
else
{
mcp4726_wrt(loop_tbl[0]); //
DA出力設定
wait_sec('m',50);
// DA値をmV換算したから、AD値も mV換算が必要です
ad_dat
= Get_ADC_Data(0); // AD0 測定値モニタ A
mv_dat
= (ad_dat*3300)/1024;
UART_puts(",");
UART_putdec(mv_dat);
//ad_dat
= Get_ADC_Data(1); // AD0 測定値モニタ B
//mv_dat
= (ad_dat*3300)/1024;
//UART_puts(",");
//UART_putdec(mv_dat);
}
UART_puts("\r\n");



C1815 をブレッドボードで仮測定してみます




2SC2712 の実験



考察と反省
- 表面実装のトランジスタの専用クリップは出来ませんでした
- 今後検討します
- 2SC1815 2SC2712 はスイッチング素子としては、ほぼ同等の活用が出来ます
- ノイズ対策を考えると、反転するポイントを 1.6V付近に移動させればよいかもしれません
- 抵抗の調整でできるのか? ベース抵抗を 20KΩに変更してみる

パッケージの検討
- 接触不良による誤データ発生を防止するため、測定対象との接続は、端子を利用します
- 端子基板は、分離沙汰ユニバーサル基板に取り付け?
- 回路増設が簡単にできる工夫をします
2025.12.16 MON (02:53) goma0099 -4771404-
K4017の特性測定
- リチウム電池が過放電しないように保護する回路の為の調査です
- 電動ドリルやスイッチのある機器は対象となりません
- 電源をいれたままで利用する用途の場合の保護回路です
- リチウム電池を2個直列で利用する用途を想定します
- MAX 8.2V を 3Vに減圧する抵抗回路を使います




- 4.45/2=2.225
- ここまで放電してしまうと、過放電なので下記数値を目標にします
- 3.4*2=6.8
- 6.8V あたりで回路がシャットダウンするように設計します
- この結果をもって、G2025a に戻ります
-
ケース収納と端子増設
- ブレッドボードとリード線の接触抵抗の不安定さから、誤差が大きくなります
- 仮実験回路は、ブレッドボードで行いますが、正確な計測は接触抵抗の対策が必要です
- ケースからのリード線は、端子を使って引き出し、接触不良対策します
- 測定素子はクリップ、はんだ付け、細ピンではないピンなどを活用して、接触不良対策します

プロジェクト修正
- 必要最低限の計測パラメーターを指示できるようにします
- AD 0-3 の計測有無を指示できるようにします




